哎咆科技,科技每日推送,AppSo,奇偶工作室,IT爆料汇,玩转手机摄影,荣耀手机,iPhone频道
ad
主页 > 奇偶工作室 >

雪域男金胶囊:集成电路测试的意义和作用

2019-03-12 00:19 来源:冰冰智能手机网 对此文章感兴趣的有:
ad

摘要 本文针对集成电路测试的意义和作用进行了分析,探讨了集成电路测试的流程以及典型电路测试的案例。

[关键词]集成电路 测试 意义 作用 分析

集成电路在经过设计、制造、封装后,一定不可缺少的环节就是对其进行测试,测试主要是为了检验集成电路的质量是否合格,是否为优良产品,确保集成电路在应用时能够正常安全工作,对于不合格的产品,测试能够发现问题,找到不合格的原因。一般来说,集成电路测试出现问题主要包括以下几点:

(1)测试方法本身出现问题导致的误测;

(2)加工工艺不够成熟或者操作人员的过失;

(3)集成电路的设计出现问题;

(4)测试的范围有问题等。

在实际应用中,部分集成电路经常会出现问题,这就是集成电路测试中没有检测出的不合格产品。面对此种情况,技术人员需要对集成电路测试设备进行分析改进,防止发生类似错误。

1 检测——集成电路的发展关键

集成电路测试是贯穿于整个集成电路设计、制造、封装及应用过程中的工作,在生产中的每一个环节都需要进行相应的测试,从而保证集成電路在整个流程中不会出现较大的问题(图1)。集成电路测试的对象包括数字IC、模拟IC、低频、射频和数模混合信号电路等设备。一般来说,集成电路测试可分为两大类:功能测试和参数测试。测试的主要目的是对集成电路元件的各项功能及参数指标进行检验,保证各项参数能够达标。就日常工作流程而言,集成电路测试流程可分为4个部分:

(1)设计验证测试。该部分是通过特征分析对设计的正确性和器件的性能参数进行确认;

(2)圆晶测试。圆晶测试是运用测试探针台等设备来进行的;

(3)封装测试。封装测试包括功能、直流与交流参数等测试;

(4)可靠性测试。保证器件的可靠性,即器件在额定的使用寿命期限之内能够安全正常地工作。

测试是集成电路产业链中的重要一环,同时也是集成电路出厂前各项参数指标的验证环节。随着集成电路的发展,测试已经由早期的一个小工序发展成为一个不可或缺、专业化和高技术化的重要环节,它为集成电路的设计、制造、封装提供了强力的支撑,为集成电路的发展起到了重要的推动作用。

2 集成电路测试的流程

集成电路的测试流程主要包括以下几个步骤:

(1)针对测试的产品本身的一个详细说明,包含产品自身的电路图、产品的主要功能介绍、产品进行测试的目的和测试的相关参数、规范,中测、成测以及老化测试回路等。

(2)测试仪器。测试仪器是在测试过程中用来检测产品的各个参数的,测试仪器分为两种,即模拟测试仪和数字测试仪。随着集成电路测试技术的进步,目前使用的集成电路测试仪器多数为自动测试仪,其占据了较高比例的测试成本。

(3)测试夹具。测试夹具是用来安装测试回路的线路板,其分为中测夹具(特针)和成测夹具两种。

(4)测试程序。测试程序是集成电路测试的软件设施,其是用C语言等程序语言编写的测试程序,测试程序需要由了解测试产品的测试工程师来编写。测试工程师不仅要熟悉测试的产品,还需要对测试回路、测试仪器等比较熟悉,要有针对性地来进行编写,以高效、准确地对集成电路进行测试。值得一提的是,编写测试程序是在做好测试夹具后进行的。

(5)中测台或分选机。中测台是用来控制芯片之间的距离的,分选机是用来控制电路的上下料的,其应用是为了配合集成电路的自动化测试。

(6)测试数据分析。芯片的测试对于不合格的产品会有相应的数据报告,数据报告是工程师对产品问题原因进行分析的根据,只有掌握这些测试数据,才能准确地对产品的问题进行分析,找到问题的原因,从而有针对性地解决问题,提高生产效率和产品合格率。

3 典型电路测试案例应用

笔者对CD2025CP进测试,首先是要对CD2025CP的双声道频率功放电路有清晰的了解,同时还要对该产品的内部线路图和引出端的功能进行了解,以此来确定相应的测试设备。需要根据测试回路来制作测试夹具,再针对该产品的测试参数条件和相应的测试仪器来进行编程;程序编写完成后,需要进行测试夹具和测试测序的调制,调试是集成电路产业链的最后一步,完成之后就可以将产品交付使用了。

另外,测试夹具的制作不仅需要保证测试回路的正确性,还要对布线的合理性和电源线、底线等的布线进行合理的规划。

4 结语

总而言之,集成电路测试是贯穿于整个集成电路产业链之中的,其为集成电路产业的规范、快速发展提供了重要的支撑,成为了与集成电路设计、制造、封装并举的四大产业之一,为信息产业的发展提供了强有力的支撑。未来,随着集成电路的发展规模化,集成电路将会越来越复杂,这对集成电路的检测提出了新的要求,在如此严峻的挑战下,相信集成电路测试技术将会发展到新的高度。

参考文献

[1]谷健,田延军,史文等.集成电路测试技术与应用[J].中国惯性技术学报,2012,10 (01):60-64.

[2]赵龙,数字集成电路测试系统逻辑测试单元分析[J].集成电路应用,2011(03):19-22.

[3]陈辉,马金元,数字集成电路测试系统[J],自动化博览,2008 (05):22-23.


ad

 

(责任编辑:奇偶工作室

相关报道


网站介绍

    冰冰智能手机网-哎咆科技,科技每日推送,AppSo,奇偶工作室,IT爆料汇,玩转手机摄影,荣耀手机,iPhone频道

ad
ad